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轻工实验室湖州-CNAS检测机构
发布用户:styqjcgs
发布时间:2024-05-19 14:35:54
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世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
在航天领域,常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量,其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下,并且待测压力微小,此外还要求小型化、低功耗,故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。
数字子系统架构从以往的设计来讲,数字子系统的引脚电子设备依赖于设计—离散设计,混合设备和完全设计。然而,今天有商业商为半导体和板级测试应用生产一系列针式电子产品,高水平的集成和通道密度。这些器件是实现更高通道密度的关键因素,同时也带来了管理功耗和功耗的持续挑战。今天的数字子系统多基于放式架构,卡模块化,如VXI和PXI标准,PXI是主导。为了适应与支持M-A应用相关的许多必要特性和功能,PXI的6U外形在标准PXI电源之外了额外的PCB空间和灵活性,可以使用额外的电源。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
数字子系统架构从以往的设计来讲,数字子系统的引脚电子设备依赖于设计—离散设计,混合设备和完全设计。然而,今天有商业商为半导体和板级测试应用生产一系列针式电子产品,高水平的集成和通道密度。这些器件是实现更高通道密度的关键因素,同时也带来了管理功耗和功耗的持续挑战。今天的数字子系统多基于放式架构,卡模块化,如VXI和PXI标准,PXI是主导。为了适应与支持M-A应用相关的许多必要特性和功能,PXI的6U外形在标准PXI电源之外了额外的PCB空间和灵活性,可以使用额外的电源。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理,使用耐高温材料外壳和支撑架,部件连接采用固体焊接等耐高温工艺,实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量,并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施,提高了抗冲击、振动能力。
轻工实验室湖州-CNAS检测机构
UART转CAN的应用已广泛应用于各行各业,因此对于数据帧转换的形式要求也逐渐增多,目前主流的转换形式包括透明转换、透明带标识转换以及自定义转换。具体是如何实现?本文将为大家介绍其中的透明带标识转换。适用场景串口转CAN模块在什么时候需要用到呢?一是老产品面临升级,需要用到CAN总线通信,但硬件中的MCU没有集成CAN总线的控制器。二是选用的MCU已经包含CAN总线接口,但数量上不能满足项目需求。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
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UART转CAN的应用已广泛应用于各行各业,因此对于数据帧转换的形式要求也逐渐增多,目前主流的转换形式包括透明转换、透明带标识转换以及自定义转换。具体是如何实现?本文将为大家介绍其中的透明带标识转换。适用场景串口转CAN模块在什么时候需要用到呢?一是老产品面临升级,需要用到CAN总线通信,但硬件中的MCU没有集成CAN总线的控制器。二是选用的MCU已经包含CAN总线接口,但数量上不能满足项目需求。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
1、传感器测量原理
(1) 微压力测量原理
高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理,根据Fabry-Perot共振效应,F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示,为传感器原理示意图,感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理,压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变,从而改变F-P腔腔长,引起干涉谱变化,通过测量干涉光谱,即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化,从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高,可感受两个镜面之间纳米级的位移变化,可满足500 Pa微小压力的测量需要。
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在大型数字波束天线中,人们非常希望通过组合来自分布式波形发生器和接收器的信号这一波束过程改善动态范围。如果关联误差项不相关,则可以在噪声和杂散性能方面使动态范围提升10logN。这里的N是波形发生器或接收器通道的数量。噪声在本质上是一个非常随机的过程,因此非常适合跟踪相关和不相关的噪声源。然而,杂散信号的存在增加了强制杂散去相关的难度。可以强制杂散信号去相关的任何设计方法对相控阵系统架构都是有价值的。
在大型数字波束天线中,人们非常希望通过组合来自分布式波形发生器和接收器的信号这一波束过程改善动态范围。如果关联误差项不相关,则可以在噪声和杂散性能方面使动态范围提升10logN。这里的N是波形发生器或接收器通道的数量。噪声在本质上是一个非常随机的过程,因此非常适合跟踪相关和不相关的噪声源。然而,杂散信号的存在增加了强制杂散去相关的难度。可以强制杂散信号去相关的任何设计方法对相控阵系统架构都是有价值的。
(2) 传感器的仪器校准原理
在传感器探头确定的情况下,参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得,而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。
将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境,通过标准具得到压力、温度的标准量,通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线,再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线,用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系,从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较,可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。
轻工实验室湖州-CNAS检测机构毋庸置疑,这种运营方式代价高昂,更不必说这绝不可能是无懈可击的全天候控制过程。多年来,采矿工业极为关心泄漏和水资源管理对环境的影响,并且一直在积极寻求监控方法。”考虑到这些需求,IntelliView发出一种行之有效的、能在数秒钟之内检测和报小规模地上液体泄漏、和汇聚成池的方法。IntelliView的泄漏检测解决方案采用新一代称之为DCAM?(双摄像头分析模块)的产品,一款将可见光相机和FLIR热像仪与内置专利型泄漏分析技术集于一体的紧凑型产品。18年1月3日,NI(美国 仪器,NationalInstruments,简称NI)作为致力于为工程师和科学家基于的系统解决方案来应对 严峻工程挑战的商,宣布推出PXIe-4163高密度源测量单元(SMU),该测量单元了比以往NIPXISMU高达6倍的直流通道密度,适用于测试RMEMS以及混合信号和其他模拟半导体元件。NI 销和市场执行副总裁EricStarkloff表示:“5物联网和自动驾驶汽车等性的技术发展给半导体企业带来持续的压力。
轻工实验室湖州-CNAS检测机构毋庸置疑,这种运营方式代价高昂,更不必说这绝不可能是无懈可击的全天候控制过程。多年来,采矿工业极为关心泄漏和水资源管理对环境的影响,并且一直在积极寻求监控方法。”考虑到这些需求,IntelliView发出一种行之有效的、能在数秒钟之内检测和报小规模地上液体泄漏、和汇聚成池的方法。IntelliView的泄漏检测解决方案采用新一代称之为DCAM?(双摄像头分析模块)的产品,一款将可见光相机和FLIR热像仪与内置专利型泄漏分析技术集于一体的紧凑型产品。18年1月3日,NI(美国 仪器,NationalInstruments,简称NI)作为致力于为工程师和科学家基于的系统解决方案来应对 严峻工程挑战的商,宣布推出PXIe-4163高密度源测量单元(SMU),该测量单元了比以往NIPXISMU高达6倍的直流通道密度,适用于测试RMEMS以及混合信号和其他模拟半导体元件。NI 销和市场执行副总裁EricStarkloff表示:“5物联网和自动驾驶汽车等性的技术发展给半导体企业带来持续的压力。